BASF Exactus® EX-S-7PY紅外測(cè)溫儀主要用于SIC或其他晶圓的高溫氧化、激活，爐管設(shè)備配套測(cè)溫儀，測(cè)溫范圍250-2600℃，精度高達(dá)1.5℃, 重復(fù)性0.1℃，漂移:每年0.1攝氏度
特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)
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- 精度，分辨率高達(dá) 0.01 oC，準(zhǔn)確度為 1.5 oC
- 重復(fù)性 0.1 oC，漂移小于每年 0.1 oC
- 速度高達(dá)每秒 1,000 個(gè)讀數(shù)
數(shù)字和/或模擬輸出，可輕松集成到控制系統(tǒng)中
巴斯夫的技術(shù)在控制晶圓間溫度和薄膜厚度均勻性方面具有諸多優(yōu)勢(shì)。較高靈敏度的電子設(shè)備和先進(jìn)的光學(xué)器件意味著可以使用更短波長(zhǎng)的探測(cè)器來(lái)測(cè)量輻射能量。這減少了晶圓透射和發(fā)射率帶來(lái)的誤差。此外，該儀器的高速和高分辨率提供了更好的控制和噪聲抑制。結(jié)果是更好地監(jiān)控晶圓溫度并改善工藝結(jié)果
測(cè)量范圍
65 – 1150 °C
(0.7 至 1.6 ?m 測(cè)量波長(zhǎng))
100 – 1900 °C
(1.55 ?m 測(cè)量波長(zhǎng)) 120 – 3000 ?C
(0.7 至 1.6 ?m 測(cè)量波長(zhǎng))
280 – 2200 °C
(0.9 ?m 測(cè)量波長(zhǎng)) 350 – 3000 ?C
(0.9 ?m 測(cè)量波長(zhǎng)) 500 – 3000 ?C
（0.65?m 測(cè)量波長(zhǎng)）
專用光學(xué)元件允許在 0.90?m 時(shí)測(cè)量至 200°C 并在 0.7-1.6?m 時(shí)測(cè)量至 25°C
SHAPE \* MERGEFORMAT 
準(zhǔn)確度 大于 1.5 ?C 或讀數(shù)的 0.15%
分辨率 高達(dá) 0.01 ?C
SHAPE \* MERGEFORMAT
重復(fù)性 0.1 °C
漂移 0.1 ?C 年加上 0.05 ?C ?C 環(huán)境溫度變化
SHAPE \* MERGEFORMAT
速度 每秒多達(dá)1000 個(gè)讀數(shù)，1ms 響應(yīng)時(shí)間 標(biāo)準(zhǔn)目標(biāo)尺寸為焦距 40.0
小目標(biāo)尺寸為焦距 / 200.0
可提供定制光學(xué)元件
10-60 ?C 用于電子元件和標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)元件如果使用光纖電纜：
標(biāo)準(zhǔn)光纖電纜 < 70 ?C
高溫光纖電纜 < 250 ?C
0.65 mm 0.90 mm
0.7 – 1.6 mm 1.55 mm
典型應(yīng)用
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